Это к вопросу какой метод как выявляет дефекты!
Михаил Юрьевич, рад Вас тут приветствовать.
Первое фото это же визуально?
Кстати заметил, что покрытие фоном перед проведением МПК само по себе улучшает видимость больших и средних трещин, за счет контраста между белым фоном и тенью внутри трещины, особенно при боковом освещении.
Пример то хороший, из которого следует что МПК выявляет лучше чем ВИК, и то что ПВК работает иначе чем МПК, иногда это хорошо, иногда очень не очень, ну и то что ПВК больше применим на поверхностях с хорошей шероховатостью, а не на литье, я думаю все это и так знают.
И скорее всего класс чувствительности цветной ПВК 2, а МПД люм скорее всего 1.
А это по мне тут вообще не при чем, там явно не микронные дефекты, а более высокая чувствительность люма, по сравнению с нелюмом, за счет более острого восприятия лучистой энергии.
ПС. Фото с люм, не плохого качества, и заметно неоднородность поля, чем магнитили если не секрет?